会议时间：2016-10-10 10:00-12:00会议地点：上海新国际博览中心 主办单位：慕尼黑博览集团 培训主题：提高痕量分析: 使气相色谱及气质连用的噪音和背景降至最小化以达到灵敏度的最大化 演讲嘉宾：Dr. JAAP (Restek Corporation Company)
编辑： qimx 来源：丁香园
主办单位： 慕尼黑博览集团 慕尼黑展览（上海）有限公司 合办单位： 中国分析测试协会 （ CAIA ） 协办单位： 中国化学会 （ CCS ） 支持单位： 欧洲精密机械和光学工业联盟 查看更多>>
