2015第三届原位电离质谱会议

作者:   2015-02-06
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在国民经济、政治、文化日新月异的今天,食品、药品、生物制品、农副产品、材料等安全问题和及环境污染事件愈演愈烈,多地持续大面积雾霾的频发也似乎成了全民关注的焦点之一,分析检测行业承载着前所未有的压力。如何快速、高效、准确和灵敏地检测并有效地监控有毒、有害物质的迁涉日渐成为了科学检测队伍所面临的难题。面对庞杂的样本基数、冗繁的样本前处理、多变的数据分析、和许多不确定的人为因素,传统的检测技术颇受效率和速度瓶颈的制约。如何寻找快速、经济、无损、实时和原位的检测方式困扰着分析科学界、检测科研队伍、和安全法规制定者:分析行业的下一条光明出路在哪儿?

“绿色”、“快速”、“无损”、“原位”是分析检测行业新的发展方向,其中近几年以“常压敞开式电离质谱”和“表面直接分析(如LESA、DART)”等为代表的原位电离质谱(统称AIMS)新技术发展迅猛,既挑战了传统的分析检测流程,又以其经济、准确、无污染、即时甚至无损的优势出现在当今仪器行业的中心舞台,并迅速在行业内逐层渗透,开始影响着下一代分析检测技术的开发和利用。其中,中国科学界在原位电离技术领域的发展和应用方面崭露头角,赢得了良好的国际声誉。

由中国质谱学会主办、华质泰科承办的“2015第三届原位电离质谱会议”(AIMS2015)即将于2015年4月24-25日在成都举办,我们诚挚的邀请您莅临这一盛会,与同仁共享新理念,研讨新热点,交流新经验,推动实时科学与质谱行业的整体发展。欢迎质谱工作者和相关专业的学者积极参与!

编辑: 崔子冉    来源:丁香园

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